Terahertz Lichtfeld Kamera Prototyp

Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera
Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera
Lichtfeld-Kameras nehmen sowohl die Intensität, als auch die Richtung des einfallenden Lichtes auf. Dadurch ermöglichen Sie eine dynamische Fokuspunkt-Einstellung und damit die Generierung von 3-D Bildern. Ursprünglich wurde das Konzept der Lichtfeld-Bildgebung im sichtbaren Bereich des Spektrums realisiert. Unser Lehrstuhl ist führend in der Entwicklung von Lichtfeld-Verfahren für das THz Spektrum, wodurch fundamentales Verständnis gefördert und neue Hardware entwickelt wird um das THz Band zu erschließen.
Zurzeit forschen wir an einem THz-Lichtfeld-Kamera Prototypen, der aus einer 3x3 Matrix von Linsen-gekoppelten 1k-Pixel THz CMOS Kameras besteht, integriert auf einem PCB. Der CMOS Kamera Chip wurde auf der International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) 2021 präsentiert. Die Abbildung zeigt den Prototypen der Lichtfeld-Kamera. Dieser Prototyp dient als Hardware-Plattform für die Entwicklung von THz-Lichtfeld 3-D Bildgebungsverfahren in Echtzeit.
Vorangegangene Arbeiten
- 2024
3893.
Kolonko, Lech; Velten, Jörg; Kummert, Anton
Parallelized Hardware Acceleration of Automatic Differentiating Wave Digital Filters
2024 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Seite 1-5
20243892.
Stillger, Felix; Hasecke, Frederik; Meisen, Tobias
Principal Component Clustering for Semantic Segmentation in Synthetic Data Generation
20243891.
Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3890.
Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3889.
Hahn, Yannik; Maack, Robert; Tercan, Hasan; Meisen, Tobias; Purrio, Marion; Buchholz, Guido; Angerhausen, Matthias
Quality Prediction in Arc Welding: Leveraging Transformer Models and Discrete Representations from Vector Quantised-VAE
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor, Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management, Seite 4522—4529
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3888.
Hahn, Yannik; Maack, Robert; Tercan, Hasan; Meisen, Tobias; Purrio, Marion; Buchholz, Guido; Angerhausen, Matthias
Quality Prediction in Arc Welding: Leveraging Transformer Models and Discrete Representations from Vector Quantised-VAE
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor, Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management, Seite 4522—4529
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3887.
Hahn, Yannik; Maack, Robert; Buchholz, Guido; Purrio, Marion; Angerhausen, Matthias; Tercan, Hasan; Meisen, Tobias
Quality Prediction in Arc Welding: Leveraging Transformer Models and Discrete Representations from Vector Quantised—VAE
Proceedings of the 33st ACM International Conference on Information & Knowledge ManagementausCIKM '24
2024ISBN: 979-8-4007-0436-9
3886.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers' Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3885.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers' Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3884.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers' Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3883.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers’ Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3882.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243881.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243880.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243879.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243878.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243877.
Meusener, Jan-Hendrik; Kollek, Kevin; Krabbe, Jan-Christoph; Kummert, Anton
Robust Cable-Length-Differences-Based Position Tracking for a Cable Driven Parallel Robot
2024 9th International Conference on Control and Robotics Engineering (ICCRE), Seite 147-150
20243876.
Meusener, Jan-Hendrik; Kollek, Kevin; Krabbe, Jan-Christoph; Kummert, Anton
Robust Cable-Length-Differences-Based Position Tracking for a Cable Driven Parallel Robot
2024 9th International Conference on Control and Robotics Engineering (ICCRE), Seite 147-150
20243875.
Ndagijimana, Adolphe; Ederra, Iñigo; Heredia Conde, Miguel
Sequence optimisation for compressed sensing CDMA MIMO radar via mutual coherence minimisation
IET Radar Sonar Navig., Seite 1-5
20243874.
Sadkaoui, Hamadi; Conde, Miguel Heredia; Andree, Marcel; Prabhu, Arjith Chandra; Kutaish, Abdulraouf; Hamzeh, Ehsan; Pfeiffer, Ullrich R.
Silicon-Based 3-D Imaging with Terahertz Light-Field
Optica Imaging Congress 2024 (3D, AOMS, COSI, ISA, pcAOP), Seite IW1D.1
Herausgeber: Optica Publishing Group
20243873.
Sadkaoui, Hamadi; Conde, Miguel Heredia; Andree, Marcel; Prabhu, Arjith Chandra; Kutaish, Abdulraouf; Hamzeh, Ehsan; Pfeiffer, Ullrich R.
Silicon-Based 3-D Imaging with Terahertz Light-Field
Optica Imaging Congress 2024 (3D, AOMS, COSI, ISA, pcAOP), Seite IW1D.1
Herausgeber: Optica Publishing Group
20243872.
Sadkaoui, Hamadi; Conde, Miguel Heredia; Andree, Marcel; Prabhu, Arjith Chandra; Kutaish, Abdulraouf; Hamzeh, Ehsan; Pfeiffer, Ullrich R.
Silicon-Based 3-D Imaging with Terahertz Light-Field
Optica Imaging Congress 2024 (3D, AOMS, COSI, ISA, pcAOP), Seite IW1D.1
Herausgeber: Optica Publishing Group
20243871.
Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
Simulation Study: Data-Driven Material Decomposition in Industrial X-ray Computed Tomography
NDT, 2 (1) :1—15
20243870.
Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
Simulation Study: Data-Driven Material Decomposition in Industrial X-ray Computed Tomography
NDT, 2 (1) :1—15
20243869.
Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
Simulation Study: Data-Driven Material Decomposition in Industrial X-ray Computed Tomography
NDT, 2 (1) :1—15
2024