Terahertz Lichtfeld Kamera Prototyp

Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera
Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera
Lichtfeld-Kameras nehmen sowohl die Intensität, als auch die Richtung des einfallenden Lichtes auf. Dadurch ermöglichen Sie eine dynamische Fokuspunkt-Einstellung und damit die Generierung von 3-D Bildern. Ursprünglich wurde das Konzept der Lichtfeld-Bildgebung im sichtbaren Bereich des Spektrums realisiert. Unser Lehrstuhl ist führend in der Entwicklung von Lichtfeld-Verfahren für das THz Spektrum, wodurch fundamentales Verständnis gefördert und neue Hardware entwickelt wird um das THz Band zu erschließen.
Zurzeit forschen wir an einem THz-Lichtfeld-Kamera Prototypen, der aus einer 3x3 Matrix von Linsen-gekoppelten 1k-Pixel THz CMOS Kameras besteht, integriert auf einem PCB. Der CMOS Kamera Chip wurde auf der International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) 2021 präsentiert. Die Abbildung zeigt den Prototypen der Lichtfeld-Kamera. Dieser Prototyp dient als Hardware-Plattform für die Entwicklung von THz-Lichtfeld 3-D Bildgebungsverfahren in Echtzeit.
Vorangegangene Arbeiten
- 2024
3934.
Stillger, Felix; Hasecke, Frederik; Meisen, Tobias
Principal Component Clustering for Semantic Segmentation in Synthetic Data Generation
20243933.
Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3932.
Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3931.
Hahn, Yannik; Maack, Robert; Tercan, Hasan; Meisen, Tobias; Purrio, Marion; Buchholz, Guido; Angerhausen, Matthias
Quality Prediction in Arc Welding: Leveraging Transformer Models and Discrete Representations from Vector Quantised-VAE
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor, Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management, Seite 4522—4529
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3930.
Hahn, Yannik; Maack, Robert; Tercan, Hasan; Meisen, Tobias; Purrio, Marion; Buchholz, Guido; Angerhausen, Matthias
Quality Prediction in Arc Welding: Leveraging Transformer Models and Discrete Representations from Vector Quantised-VAE
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor, Proceedings of the 33rd ACM International Conference on Information and Knowledge Management, Seite 4522—4529
In Serra, Edoardo and Spezzano, Francesca, Editor
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400704369
3929.
Hahn, Yannik; Maack, Robert; Buchholz, Guido; Purrio, Marion; Angerhausen, Matthias; Tercan, Hasan; Meisen, Tobias
Quality Prediction in Arc Welding: Leveraging Transformer Models and Discrete Representations from Vector Quantised—VAE
Proceedings of the 33st ACM International Conference on Information & Knowledge ManagementausCIKM '24
2024ISBN: 979-8-4007-0436-9
3928.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers' Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3927.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers' Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3926.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers' Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3925.
Jantunen, Marianna; Meyes, Richard; Kurchyna, Veronika; Meisen, Tobias; Abrahamsson, Pekka; Mohanani, Rahul
Researchers’ Concerns on Artificial Intelligence Ethics: Results from a Scenario-Based Survey
Proceedings of the 7th ACM/IEEE International Workshop on Software-intensive Business, Seite 24—31
Herausgeber: ACM, New York, NY, USA
2024ISBN: 9798400705717
3924.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243923.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243922.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243921.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243920.
Weiss, Moritz; Meisen, Tobias
Reviewing Material-Sensitive Computed Tomography: From Handcrafted Algorithms to Modern Deep Learning
NDT, 2 (3) :286—310
20243919.
Meusener, Jan-Hendrik; Kollek, Kevin; Krabbe, Jan-Christoph; Kummert, Anton
Robust Cable-Length-Differences-Based Position Tracking for a Cable Driven Parallel Robot
2024 9th International Conference on Control and Robotics Engineering (ICCRE), Seite 147-150
20243918.
Meusener, Jan-Hendrik; Kollek, Kevin; Krabbe, Jan-Christoph; Kummert, Anton
Robust Cable-Length-Differences-Based Position Tracking for a Cable Driven Parallel Robot
2024 9th International Conference on Control and Robotics Engineering (ICCRE), Seite 147-150
20243917.
Bauer, Adrian; Krabbe, Jan-Christoph; Kollek, Kevin; Velten, Jörg; Kummert, Anton
RoofSam: Adapting the Segment Anything Model to Rooftop Classification in Aerial Images
2024 58th Asilomar Conference on Signals, Systems, and Computers, Seite 350-353
20243916.
Krabbe, Jan-Christoph; Bauer, Adrian; Kollek, Kevin; Velten, Jörg; Kummert, Anton
Semantic Image Segmentation Annotation Refinement Using SAM
2024 58th Asilomar Conference on Signals, Systems, and Computers, Seite 334-337
20243915.
Ndagijimana, Adolphe; Ederra, Iñigo; Heredia Conde, Miguel
Sequence optimisation for compressed sensing CDMA MIMO radar via mutual coherence minimisation
IET Radar Sonar Navig., Seite 1-5
20243914.
Sadkaoui, Hamadi; Conde, Miguel Heredia; Andree, Marcel; Prabhu, Arjith Chandra; Kutaish, Abdulraouf; Hamzeh, Ehsan; Pfeiffer, Ullrich R.
Silicon-Based 3-D Imaging with Terahertz Light-Field
Optica Imaging Congress 2024 (3D, AOMS, COSI, ISA, pcAOP), Seite IW1D.1
Herausgeber: Optica Publishing Group
20243913.
Sadkaoui, Hamadi; Conde, Miguel Heredia; Andree, Marcel; Prabhu, Arjith Chandra; Kutaish, Abdulraouf; Hamzeh, Ehsan; Pfeiffer, Ullrich R.
Silicon-Based 3-D Imaging with Terahertz Light-Field
Optica Imaging Congress 2024 (3D, AOMS, COSI, ISA, pcAOP), Seite IW1D.1
Herausgeber: Optica Publishing Group
20243912.
Sadkaoui, Hamadi; Conde, Miguel Heredia; Andree, Marcel; Prabhu, Arjith Chandra; Kutaish, Abdulraouf; Hamzeh, Ehsan; Pfeiffer, Ullrich R.
Silicon-Based 3-D Imaging with Terahertz Light-Field
Optica Imaging Congress 2024 (3D, AOMS, COSI, ISA, pcAOP), Seite IW1D.1
Herausgeber: Optica Publishing Group
20243911.
Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
Simulation Study: Data-Driven Material Decomposition in Industrial X-ray Computed Tomography
NDT, 2 (1) :1—15
20243910.
Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
Simulation Study: Data-Driven Material Decomposition in Industrial X-ray Computed Tomography
NDT, 2 (1) :1—15
2024