Terahertz Lichtfeld Kamera Prototyp

Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera

Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera

Lichtfeld-Kameras nehmen sowohl die Intensität, als auch die Richtung des einfallenden Lichtes auf. Dadurch ermöglichen Sie eine dynamische Fokuspunkt-Einstellung und damit die Generierung von 3-D Bildern. Ursprünglich wurde das Konzept der Lichtfeld-Bildgebung im sichtbaren Bereich des Spektrums realisiert. Unser Lehrstuhl ist führend in der Entwicklung von Lichtfeld-Verfahren für das THz Spektrum, wodurch fundamentales Verständnis gefördert und neue Hardware entwickelt wird um das THz Band zu erschließen.

Zurzeit forschen wir an einem THz-Lichtfeld-Kamera Prototypen, der aus einer 3x3 Matrix von Linsen-gekoppelten 1k-Pixel THz CMOS Kameras besteht, integriert auf einem PCB. Der CMOS Kamera Chip wurde auf der International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) 2021 präsentiert. Die Abbildung zeigt den Prototypen der Lichtfeld-Kamera. Dieser Prototyp dient als Hardware-Plattform für die Entwicklung von THz-Lichtfeld 3-D Bildgebungsverfahren in Echtzeit.

Vorangegangene Arbeiten



2022

3559.

Langer, Tristan; Meyes, Richard; Meisen, Tobias
Gideon Replay: A library to replay interactions in web-applications
SoftwareX, 17 :100964
2022
ISSN: 2352-7110

3558.

Langer, Tristan; Welbers, Viktor; Meisen, Tobias
Gideon-TS: Efficient Exploration and Labeling of Multivariate Industrial Sensor Data
2184-4992
2022
ISSN: 2184-4992

3557.

Langer, Tristan; Welbers, Viktor; Meisen, Tobias
Gideon-TS: Efficient Exploration and Labeling of Multivariate Industrial Sensor Data
2184-4992
2022
ISSN: 2184-4992

3556.

Langer, Tristan; Welbers, Viktor; Meisen, Tobias
Gideon-TS: Efficient Exploration and Labeling of Multivariate Industrial Sensor Data
2184-4992
2022
ISSN: 2184-4992

3555.

Langer, Tristan; Welbers, Viktor; Meisen, Tobias
Gideon-TS: Efficient Exploration and Labeling of Multivariate Industrial Sensor Data
2184-4992
2022
ISSN: 2184-4992

3554.

Langer, Tristan; Welbers, Viktor; Meisen, Tobias
Gideon-TS: Efficient Exploration and Labeling of Multivariate Industrial Sensor Data
2184-4992
2022
ISSN: 2184-4992

3553.

Howar, Falk; Mues, Malte
GWIT: A Witness Validator for Java based on GraalVM (Competition Contribution)
Seite 446–450
Herausgeber: Springer International Publishing
2022
446–450

3552.

Howar, Falk; Mues, Malte
GWIT: A Witness Validator for Java based on GraalVM (Competition Contribution)
Seite 446–450
Herausgeber: Springer International Publishing
2022
446–450

3551.


IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE 2022), Online/Las Vegas
Herausgeber: IEEE
2022

3550.

Beitz, Bernard; Roth, Robert; Häser, Jutta; Wiegard, Tobias; Möller, Reinhard
Improving the User Experience for Manual Data Labeling using a Graph-based Approach
2022 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE), Seite 1-4
2022

3549.

Beitz, Bernard; Roth, Robert; Häser, Jutta; Wiegard, Tobias; Möller, Reinhard
Improving the User Experience for Manual Data Labeling using a Graph-based Approach
2022 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE), Seite 1-4
2022

3548.

Ghorban, Farzin; Hasan, Nesreen; Velten, Jörg; Kummert, Anton
Individual Weighting of Unlabeled Data Points via Confidence-Awareness in Semi-Supervised Learning
2022 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Seite 1215-1219
2022

3547.

Vietz, Hannes; Maschler, Benjamin; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Industrielles Transfer-Lernen: Von der Wissenschaft in die Praxis
atp magazin, 63 (9) :86—93
2022

3546.

Vietz, Hannes; Maschler, Benjamin; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Industrielles Transfer-Lernen: Von der Wissenschaft in die Praxis
atp magazin, 63 (9) :86—93
2022

3545.

Vietz, Hannes; Maschler, Benjamin; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Industrielles Transfer-Lernen: Von der Wissenschaft in die Praxis
atp magazin, 63 (9) :86—93
2022

3544.

Vietz, Hannes; Maschler, Benjamin; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Industrielles Transfer-Lernen: Von der Wissenschaft in die Praxis
atp magazin, 63 (9) :86—93
2022

3543.

Vietz, Hannes; Maschler, Benjamin; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Industrielles Transfer-Lernen: Von der Wissenschaft in die Praxis
atp magazin, 63 (9) :86—93
2022

3542.

Maschler, Benjamin; Vietz, Hannes; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Insights and Example Use Cases on Industrial Transfer Learning
Procedia CIRP, 107 :511—516
2022
ISSN: 22128271

3541.

Maschler, Benjamin; Vietz, Hannes; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Insights and Example Use Cases on Industrial Transfer Learning
Procedia CIRP, 107 :511—516
2022
ISSN: 22128271

3540.

Maschler, Benjamin; Vietz, Hannes; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Insights and Example Use Cases on Industrial Transfer Learning
Procedia CIRP, 107 :511—516
2022
ISSN: 22128271

3539.

Maschler, Benjamin; Vietz, Hannes; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Insights and Example Use Cases on Industrial Transfer Learning
Procedia CIRP, 107 :511—516
2022
ISSN: 22128271

3538.

Maschler, Benjamin; Vietz, Hannes; Tercan, Hasan; Bitter, Christian; Meisen, Tobias; Weyrich, Michael
Insights and Example Use Cases on Industrial Transfer Learning
Procedia CIRP, 107 :511—516
2022
ISSN: 22128271

3537.

Steiniger, Yannik; Stoppe, Jannis; Kraus, Dieter; Meisen, Tobias
Investigating the training of convolutional neural networks with limited sidescan sonar image datasets
OCEANS 2022, Hampton Roads, Seite 1—6
Herausgeber: IEEE
2022

3536.

Steiniger, Yannik; Stoppe, Jannis; Kraus, Dieter; Meisen, Tobias
Investigating the training of convolutional neural networks with limited sidescan sonar image datasets
OCEANS 2022, Hampton Roads, Seite 1—6
Herausgeber: IEEE
2022

3535.

Steiniger, Yannik; Stoppe, Jannis; Kraus, Dieter; Meisen, Tobias
Investigating the training of convolutional neural networks with limited sidescan sonar image datasets
OCEANS 2022, Hampton Roads, Seite 1—6
Herausgeber: IEEE
2022