Terahertz Lichtfeld Kamera Prototyp

Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera

Seitliche Ansicht der THz-Lichtfeld Kamera

Lichtfeld-Kameras nehmen sowohl die Intensität, als auch die Richtung des einfallenden Lichtes auf. Dadurch ermöglichen Sie eine dynamische Fokuspunkt-Einstellung und damit die Generierung von 3-D Bildern. Ursprünglich wurde das Konzept der Lichtfeld-Bildgebung im sichtbaren Bereich des Spektrums realisiert. Unser Lehrstuhl ist führend in der Entwicklung von Lichtfeld-Verfahren für das THz Spektrum, wodurch fundamentales Verständnis gefördert und neue Hardware entwickelt wird um das THz Band zu erschließen.

Zurzeit forschen wir an einem THz-Lichtfeld-Kamera Prototypen, der aus einer 3x3 Matrix von Linsen-gekoppelten 1k-Pixel THz CMOS Kameras besteht, integriert auf einem PCB. Der CMOS Kamera Chip wurde auf der International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) 2021 präsentiert. Die Abbildung zeigt den Prototypen der Lichtfeld-Kamera. Dieser Prototyp dient als Hardware-Plattform für die Entwicklung von THz-Lichtfeld 3-D Bildgebungsverfahren in Echtzeit.

Vorangegangene Arbeiten



2024

3979.

Kollek, Kevin; Braun, Marco; Meusener, Jan-Hendrik; Krabbe, Jan-Christoph; Kummert, Anton
Empirical Study on the Impact of Few-Cost Proxies
2024 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Seite 1-5
2024

3978.

Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
End-To-End Deep Learning Material Discrimination Using Dual-Energy LINAC-CT
e-Journal of Nondestructive Testing, 29 (3)
2024

3977.

Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
End-To-End Deep Learning Material Discrimination Using Dual-Energy LINAC-CT
e-Journal of Nondestructive Testing, 29 (3)
2024

3976.

Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
End-To-End Deep Learning Material Discrimination Using Dual-Energy LINAC-CT
e-Journal of Nondestructive Testing, 29 (3)
2024

3975.

Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
End-To-End Deep Learning Material Discrimination Using Dual-Energy LINAC-CT
e-Journal of Nondestructive Testing, 29 (3)
2024

3974.

Weiss, Moritz; Brierley, Nick; Schmid, Mirko; Meisen, Tobias
End-To-End Deep Learning Material Discrimination Using Dual-Energy LINAC-CT
e-Journal of Nondestructive Testing, 29 (3)
2024

3973.

Ahmed, Faisal; Heredia Conde, Miguel; Lopez Martinez, Paula
Evaluation of Kalman Filter-Aided GIPS for Passive ToF 3D Sensing
2024 International Workshop on the Theory of Computational Sensing and its Applications to Radar, Multimodal Sensing and Imaging (CoSeRa), Seite 117-121
2024

3972.

Ahmed, Faisal; Heredia Conde, Miguel; López Martínez, Paula
Evaluation of Kalman Filter-Aided GIPS for Passive ToF 3D Sensing
2024 International Workshop on the Theory of Computational Sensing and its Applications to Radar, Multimodal Sensing and Imaging (CoSeRa), Seite 117-121
2024

3971.

Ahmed, Faisal; Heredia Conde, Miguel; López Martínez, Paula
Evaluation of Kalman Filter-Aided GIPS for Passive ToF 3D Sensing
2024 International Workshop on the Theory of Computational Sensing and its Applications to Radar, Multimodal Sensing and Imaging (CoSeRa), Seite 117-121
2024

3970.

Mues, Malte; Rüschoff, Julian; Hermann, Ben
Exploring Loose Coupling of Slicing with Dynamic Symbolic Execution on the JVM
Seite 168–175
Herausgeber: Springer Nature Switzerland
September 2024
168–175

3969.

Mues, Malte; Rüschoff, Julian; Hermann, Ben
Exploring Loose Coupling of Slicing with Dynamic Symbolic Execution on the JVM
Seite 168–175
Herausgeber: Springer Nature Switzerland
September 2024
168–175

3968.

Krah, J. O.; Holtz, J.
Fast Current Limiting with Virtual Synchronous Generators
2024 4th International Conference on Smart Grid and Renewable Energy (SGRE), Seite 1--6
2024

3967.

Walsemann, Alexander; Karagounis, Michael; Stanitzki, Alexander; Tutsch, Dietmar
Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications
Journal of Instrumentation, 19
2024

3966.

Krabbe, Jan-Christoph; Bauer, Adrian; Kollek, Kevin; Meusener, Jan-Hendrik; Kummert, Anton
FPSeg: Flexible Promptable Semantic Segmentation for Edge Devices
2024 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Seite 1-5
2024

3965.

Krabbe, Jan-Christoph; Bauer, Adrian; Kollek, Kevin; Meusener, Jan-Hendrik; Kummert, Anton
FPSeg: Flexible Promptable Semantic Segmentation for Edge Devices
2024 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Seite 1-5
2024

3964.

Lopez Paredes, Alvaro; Gutierrez-Barragan, Felipe; Heredia Conde, Miguel
Gram-Guided Error-Correction for Highly-Coherent Dictionaries and its Application to CS-ToF Imaging
2024 32nd European Signal Processing Conference (EUSIPCO), Seite 2687-2691
2024

3963.

Lopez Paredes, Alvaro; Gutierrez-Barragan, Felipe; Heredia Conde, Miguel
Gram-Guided Error-Correction for Highly-Coherent Dictionaries and its Application to CS-ToF Imaging
2024 32nd European Signal Processing Conference (EUSIPCO), Seite 2687-2691
2024

3962.

Lopez Paredes, Alvaro; Gutierrez-Barragan, Felipe; Heredia Conde, Miguel
Gram-Guided Error-Correction for Highly-Coherent Dictionaries and its Application to CS-ToF Imaging
2024 32nd European Signal Processing Conference (EUSIPCO), Seite 2687-2691
2024

3961.

Langer, Tristan; Meyes, Richard; Meisen, Tobias
Guided Exploration of Industrial Sensor Data
Computer Graphics Forum, 43 (1)
2024
ISSN: 0167-7055

3960.

Langer, Tristan; Meyes, Richard; Meisen, Tobias
Guided Exploration of Industrial Sensor Data
Computer Graphics Forum, 43 (1)
2024
ISSN: 0167-7055

3959.

Langer, Tristan; Meyes, Richard; Meisen, Tobias
Guided Exploration of Industrial Sensor Data
Computer Graphics Forum, 43 (1)
2024
ISSN: 0167-7055

3958.

Langer, Tristan; Meyes, Richard; Meisen, Tobias
Guided Exploration of Industrial Sensor Data
Computer Graphics Forum, 43 (1)
2024
ISSN: 0167-7055

3957.

Langer, Tristan; Meyes, Richard; Meisen, Tobias
Guided Exploration of Industrial Sensor Data
Computer Graphics Forum, 43 (1)
2024
ISSN: 0167-7055

3956.

Arndt, Patrick; Niewiadomski, Karol; Tutsch, Dietmar
Hardware Accelerated Matrix Multiplication for Embedded Systems
2024 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE), Seite 1-6
2024

3955.

Ndagijimana, Adolphe; Ederra, Iñigo; Conde, Miguel Heredia
Impact of Diffraction on Terahertz Compressed Sensing Single-Pixel Imaging
2024 International Workshop on the Theory of Computational Sensing and its Applications to Radar, Multimodal Sensing and Imaging (CoSeRa), Seite 76-80
2024